ФЭНДОМ


Особенность-ориентированное сканирование (ООС)[1] — метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве точек привязки зонда микроскопа. Метод ООС заключается в том, что в ходе последовательных переходов от одной особенности поверхности к расположенной по соседству другой особенности производится измерение относительного расстояния между ними, а также измерение топографии окрестностей этих особенностей — сегментов. Такой подход позволяет просканировать заданную область на поверхности по частям, после чего восстановить целое изображение из полученных фрагментов. Кроме указанного допустимо использование другого названия метода — объектно-ориентированное сканирование.

Литература Править

  1. R. V. Lapshin, “Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology”, Nanotechnology, volume 15, issue 9, pages 1135-1151, 2004.


Обнаружено использование расширения AdBlock.


Викия — это свободный ресурс, который существует и развивается за счёт рекламы. Для блокирующих рекламу пользователей мы предоставляем модифицированную версию сайта.

Викия не будет доступна для последующих модификаций. Если вы желаете продолжать работать со страницей, то, пожалуйста, отключите расширение для блокировки рекламы.

Также на ФЭНДОМЕ

Случайная вики