ФЭНДОМ


Встречное сканирование (ВС)[1] — способ измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, позволяющий исправлять искажения растра, возникающие в результате дрейфа зонда микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС получают два скана поверхности — прямой и встречный. Встречный скан начинается в точке, где заканчивается прямой скан. Перемещение по строке растра и перемещение от строки к строке растра во встречном скане выполняется в направлении противоположном направлению перемещения в прямом. Полученная пара изображений называется встречно-сканированными изображениями (ВСИ).

Литература Править

  1. R. V. Lapshin, “Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition”, Measurement Science and Technology, volume 18, issue 3, pages 907-927, 2007.
en:Atomic force microscope

en:Nanotechnology

Обнаружено использование расширения AdBlock.


Викия — это свободный ресурс, который существует и развивается за счёт рекламы. Для блокирующих рекламу пользователей мы предоставляем модифицированную версию сайта.

Викия не будет доступна для последующих модификаций. Если вы желаете продолжать работать со страницей, то, пожалуйста, отключите расширение для блокировки рекламы.

Также на ФЭНДОМЕ

Случайная вики